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Statistisch abgesicherte Interpretation von SPR-Biochipsignalen via SPRING. Statistically Verified SPR Data Analysis via SPRING

Statistisch abgesicherte Interpretation von SPR-Biochipsignalen via SPRING. Statistically Verified SPR Data Analysis via SPRING

Krügener, Sven; Hettwer, Karina; Simon, Kirsten; Uhlig, Steffen (2013)

Published in:

tm - Technisches Messen 80 (9), p. 299–304.

http://dx.doi.org/10.1524/teme.2013.0013